Open eVision-Bibliotheken

EasyFind

Bibliothek für Vergleiche von geometrischen Mustern

Pattern-Matching mit einer Merkmalspunkt-Technologie
Lernen von Bildern oder DXF-Vektormodellen
Vollautomatisch, schnell und robust
Invariant gegen Drehung und Skalierung
Hohe Toleranz gegenüber Musterverschlechterung
Unterstützung von „Don‘t care“-Bereichen